Поверка: первичная поверка включена в цену и оформляется перед отправкой заказчику. Сведения о результатах поверки передаются в Федеральный информационный фонд по обеспечению единства измерений (ФИФ ОЕИ) в течение 40 рабочих дней с даты проведения поверки.
Микроскопы предназначены для рассмотрения с увеличением 20, 40, 50, 100 или 200 крат различных предметов и оценочных или точных измерений их линейных размеров. Микроскопы применяются в стационарных и передвижных лабораториях фармацевтической, строительной, химической, аналитической, пищевой, металлургической и других областях промышленности.
Наиболее частое применение: измерение диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Также микроскопы могут быть использованы с целью:
Объект-микрометры ОМО (для отражённого света) и ОМП (для проходящего света) (далее - ОМ) предназначены для определения увеличения линейного поля зрения микроскопов, проекторов, цены деления окулярных шкал и сеток.
ВАЖНО! Международными стандартами предписывается проверять правильность показаний отсчётного микроскопа на объект-микрометрах перед каждой рабочей сменой, а если в течение рабочей смены производиться большое количество замеров - то после каждой крупной серии таких измерений. Для выбора объект-микрометра необходимого типа перейдите в раздел "ОБЪЕКТ-МИКРОМЕТРЫ".
Предназначены для исследований в отраженном свете как объектов металлической природы, так и любых непрозрачных или полупрозрачных материалов в металлургии, минералогии, геологии, археологии, микроэлектронике и т.д. Объектами исследований здесь являются "шлифы", то есть вырезанные и тщательно отшлифованные пластинки металла. С помощью металлографических микроскопов в отраженном свете проводится анализ зерен металла (размер и расположение), неметаллических включений и фаз в металле (анализ частиц); контроль структуры поверхностного слоя (шероховатость и плоскостность), а также обнаружение различных дефектов. Металлографические микроскопы помогут выявить мелкие трещины, раковины и дефекты кристаллического строения. Микроскопы металлографические бывают прямые и инвертированные. Разница между ними состоит в том, как расположены объективы, насадка и окуляры по отношению к объекту: в прямых металлографических микроскопах наблюдательная часть расположена над объектом, а инвертированных – под объектом. Часто металлографический микроскоп комплектуются поляризатором и анализатором для проведения исследований в поляризованном свете, а также в тёмном поле, что позволяет достичь очень точных результатов исследований.
Назначение средства измерений
Микроскопы отсчётные МПБ (далее - микроскопы) предназначены для измерения линейных размеров в отражённом свете, в том числе для измерения диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля.Микроскопы предназначены для рассмотрения с увеличением 20, 40, 50, 100 или 200 крат различных предметов и оценочных или точных измерений их линейных размеров. Микроскопы применяются в стационарных и передвижных лабораториях фармацевтической, строительной, химической, аналитической, пищевой, металлургической и других областях промышленности.
Наиболее частое применение: измерение диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Также микроскопы могут быть использованы с целью:
- изучения и измерения микрообъектов бесконтактным способом;
- проверки печатных плат;
- контроля печати в бумажной и текстильной промышленности;
- проведения опытных и криминалистических экспертиз.
Описание средства измерений
Принцип действия микроскопа основан на определении линейных размеров изображения объектов, в том числе отпечатка, получаемого от вдавливания шарика в исследуемый материал под определённой нагрузкой, по шкалам сетки и микрометрического винта или с помощью программного обеспечения камеры, используемой вместо объектива.
МПБ-3М В7 с цифровой камерой - фокусировка микроскопов на измеряемом объекте осуществляется вручную с помощью фокусировочного механизма. Просветлённая оптика и навесной осветитель позволяют улучшить контрастирование и проводить измерения вне зависимости от степени освещённости объекта контроля. Один штатный сменный объектив 4х с цифровой камерой (2 Мп USB 2.0), четыре сменных объектива по заказу (2х, 5х, 10х, 20х). Оснащается программным обеспечением (ПО) AmScope или Yais, устанавливаемым на компьютер. Камера производит захват изображения и видео, которое обрабатывается с помощью ПО для отображения результатов измерений, а также для сбора, обработки и хранения измерительной информации. Рекомендуется использовать для замера объектов, линейные размеры которых менее ≤1 мм (при измерении цифровой камерой), а также отпечатков d≤5 мм по ГОСТ 9012-59 и иных объектов, линейные размеры которых менее ≤5 мм (при измерении дополнительными объективами 2х, 5х, 10х, 20х).
Дополнительные принадлежности первой необходимости
ОБЪЕКТ-МИКРОМЕТРЫОбъект-микрометры ОМО (для отражённого света) и ОМП (для проходящего света) (далее - ОМ) предназначены для определения увеличения линейного поля зрения микроскопов, проекторов, цены деления окулярных шкал и сеток.
ВАЖНО! Международными стандартами предписывается проверять правильность показаний отсчётного микроскопа на объект-микрометрах перед каждой рабочей сменой, а если в течение рабочей смены производиться большое количество замеров - то после каждой крупной серии таких измерений. Для выбора объект-микрометра необходимого типа перейдите в раздел "ОБЪЕКТ-МИКРОМЕТРЫ".
Дополнительные принадлежности рекомендуемые
МИКРОСКОПЫ МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕПредназначены для исследований в отраженном свете как объектов металлической природы, так и любых непрозрачных или полупрозрачных материалов в металлургии, минералогии, геологии, археологии, микроэлектронике и т.д. Объектами исследований здесь являются "шлифы", то есть вырезанные и тщательно отшлифованные пластинки металла. С помощью металлографических микроскопов в отраженном свете проводится анализ зерен металла (размер и расположение), неметаллических включений и фаз в металле (анализ частиц); контроль структуры поверхностного слоя (шероховатость и плоскостность), а также обнаружение различных дефектов. Металлографические микроскопы помогут выявить мелкие трещины, раковины и дефекты кристаллического строения. Микроскопы металлографические бывают прямые и инвертированные. Разница между ними состоит в том, как расположены объективы, насадка и окуляры по отношению к объекту: в прямых металлографических микроскопах наблюдательная часть расположена над объектом, а инвертированных – под объектом. Часто металлографический микроскоп комплектуются поляризатором и анализатором для проведения исследований в поляризованном свете, а также в тёмном поле, что позволяет достичь очень точных результатов исследований.
