Микроскопы отсчётные МПБ-2 изготовлены на предприятии "Изюмский приборостроительный завод", Украина, серийный выпуск данной модели прекращён в 1990г. Новые изделия, получены со складов длительного хранения Федерального Агентства по государственным резервам (Росрезерв).
Назначение средства измерений:
Микроскоп отсчётный тип МПБ предназначен для измерения отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Микроскоп должен эксплуатироваться при нормальных климатических условиях по ГОСТ 15150-69: температура 25±10 0С, относительная влажность воздуха 45—80%, атмосферное давление 84,0-106,7 кПа-(630-800 .мм рт. ст.).
Описание средства измерений:
Микроскопы отсчётные тип МПБ предназначены для проведения обследований и измерений отпечатков (лунок), полученных на поверхности металлов с использованием твердомеров по методу Бринелль, в лабораторных условиях и на производстве (в машиностроении, бумажной, полиграфической, текстильной промышленности и т.д.) для увеличения мелких объектов и измерения их линейной длины.
Микроскоп имеет окуляр с измерительной шкалой и диоприйной регулировкой. Микроскопы типов МПБ-3 и МПБ-3М взаимозаменяемы с МПБ-2 (снят с производства, поставляется только со складских остатков).
МПБ-3 и МПБ-3М оснащены сменными объективами 4х и 2х, позволяющими получить видимое увеличение 50х и 25х соответственно. На сетке имеются две шкалы с разной ценой деления для разных увеличений. МПБ-2 имеет один объектив с постоянным увеличением 24х.
Отличительные особенности измерений прибором:
Определение твёрдости металлов по методу Бринелль;
Контроль износа конструктивных элементов в цехах и в лаборатории;
В лабораториях заводских учебных и экспертных (криминалистические, опытные).
Дополнительные принадлежности первой необходимости.
НАВЕСНОЙ ОСВЕТИТЕЛЬ
Позволяет производить замеры вне зависимости от освещения в помещении. При его использовании более чётко видны измеряемые объекты, меньше напрягаются глаза оператора.
ОБЪЕКТ-МИКРОМЕТРЫ
Объект-микрометры ОМО (для отражённого света) и ОМП (для проходящего света) (далее - ОМ) предназначены для определения увеличения линейного поля зрения микроскопов, проекторов, цены деления окулярных шкал и сеток.
ВАЖНО! Международными стандартами предписывается проверять правильность показаний отсчётного микроскопа на объект-микрометрах перед каждой рабочей сменой, а если в течение рабочей смены производиться большое количество замеров - то после каждой крупной серии таких измерений. Для выбора объект-микрометра необходимого типа перейдите в раздел "ОБЪЕКТ-МИКРОМЕТРЫ".
Дополнительные принадлежности рекомендуемые.
МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКАЯ ПОДГОТОВКА
Металлографическая пробоподготовка представляет собой процесс получения качественного образца для исследований, который имеет правильную форму и наилучшим образом подходит для изучения. Качество подготовки образца в конечном счёте влияет на качество результатов исследований, т.е. если вы имеете в лаборатории высококлассное оборудование для металлографической пробоподготовки, то и образцы будут хорошо подготовлены и они все будут иметь правильную одинаковую форму, что в итоге даст высокую повторяемость свойств металлов в каждом образце из партии, улучшает воспроизводимость, уменьшает погрешность измерений. Для получения образцов предлагается специальное оборудование для пробоподготовки: станки отрезные, шлифовально-полировальные и лабораторные прессы.
МИКРОСКОПЫ МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ
Предназначены для исследований в отраженном свете как объектов металлической природы, так и любых непрозрачных или полупрозрачных материалов в металлургии, минералогии, геологии, археологии, микроэлектронике и т.д. Объектами исследований здесь являются "шлифы", то есть вырезанные и тщательно отшлифованные пластинки металла. С помощью металлографических микроскопов в отраженном свете проводится анализ зерен металла (размер и расположение), неметаллических включений и фаз в металле (анализ частиц); контроль структуры поверхностного слоя (шероховатость и плоскостность), а также обнаружение различных дефектов. Металлографические микроскопы помогут выявить мелкие трещины, раковины и дефекты кристаллического строения. Микроскопы металлографические бывают прямые и инвертированные. Разница между ними состоит в том, как расположены объективы, насадка и окуляры по отношению к объекту: в прямых металлографических микроскопах наблюдательная часть расположена над объектом, а инвертированных – под объектом. Часто металлографический микроскоп комплектуются поляризатором и анализатором для проведения исследований в поляризованном свете, а также в тёмном поле, что позволяет достичь очень точных результатов исследований.
Ближайшие аналоги по метрологическим и техническим характеристикам, ценам.
МПБ-75 микроскоп отсчётный Бринелль
Не внесено в Государственный реестр
Микроскоп отсчётный типа МПБ-75 предназначен для и измерения отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля.
МПБ-77 микроскоп отсчётный Бринелль с USB камерой
Не внесено в Государственный реестр
Микроскоп отсчётный типа МПБ-77 с цветной камерой USB предназначен для и измерения отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Модель МПБ-77 является усовершенствованной моделью МПБ-75 за счёт дополнения цветной цифровой камерой 2Мп с USB-кабелем 2.0, которая позволяет делать снимки и выводить изображение на монитор компьютера в режиме реального времени. Приложение ПО русифицировано.
Параметр
Обозначение микроскопа
МПБ-3
МПБ-3М
МПБ-2
Объектив
4Х
Объектив
2Х
Объектив
4Х
Объектив
2Х
Диапазон измерения (max размер измеряемого отпечатка), мм
0…3,5
0…7
0…3,5
0…6,5
Поле зрения, мм, не менее
4,5
9
4,5
8,5
Видимое увеличение микроскопа, крат
50±2,5
25±1,2
50±2,5
24±1,2
Предел допускаемой абсолютной погрешности измерения:
- на длине до 2 мм (на любом интервале шкалы), мм
- на всей длине шкалы, мм
±0,02
±0,02
±0,02
- 0,01
- 0,02
Пределы установки (диоптрийное перемещение) окуляра, дптр
±4
Цена деления шкалы сетки, мм
0,02
0,04
0,02
0,05
Расстояние от объектива до предмета, мм
13,9
35,2
13,9
35,2
Предел допускаемой абсолютной погрешности, мм
±0,02
Габаритные размеры, мм, не более
238хØ53
202хØ50
Масса, кг, не более
0,55
0,48
Масса объектива, кг, не более
0,03
Масса осветителя, кг, не более (по заказу)
*Источник света лампа МН2,5-0,15 и две батарейки по 1,5V